Feladat: 2007. évi Nemzetközi Fizika Diákolimpia 4. feladata Korcsoport: 18- Nehézségi fok: nehéz
Füzet: 2007/november, 502. oldal  PDF  |  MathML 
Témakör(ök): Fénytani (optikai) mérés, Nemzetközi Fizika Diákolimpia

A szöveg csak Firefox böngészőben jelenik meg helyesen. Használja a fenti PDF file-ra mutató link-et a letöltésre.

 
Kísérleti feladat
 

A kísérleti feladatban egy vasoxid (Fe2O3) nanorészecske-láncokat tartalmazó vékonyréteg-félvezető tiltottsáv-szélességét és vastagságát kellett meghatározni optikai módszerrel.
A tiltottsáv-szélesség a félvezetők és a szigetelők esetében a vegyérték sáv teteje és a vezetési sáv alja közti energiakülönbség. A vegyérték sáv teljesen be van töltve elektronokkal, a vezetési sáv pedig üres ‐ azonban a vegyérték sávból elektronok juthatnak a vezetési sávba, ha elegendő (legalább a tiltottsáv-szélességgel megegyező nagyságú) energiát kapnak.
A tiltottsáv-szélesség megméréséhez az átlátszó vékonyréteg fényelnyelő-képességét (abszorpcióját) kellett vizsgálniuk a versenyzőknek a mintán áthaladó fény spektrumának segítségével. Kicsit leegyszerűsítve azt mondhatjuk, hogy az abszorpciós spektrumon hirtelen ugrás (növekedés) figyelhető meg, amikor a foton energiája eléri a tiltottsáv-szélességet.
Kísérletileg bebizonyították, hogy a tiltottsáv-szélességnél kicsit nagyobb fotonenergiák esetében a következő összefüggés teljesül:
αhν=A(hν-Eg)η,(1)
ahol α a vékonyréteg abszorpciós együtthatója, A egy anyagfüggő (a vékonyréteg anyagától függő) állandó, η pedig a vékonyréteg anyagától és szerkezetétől függő abszorpciós mechanizmusból meghatározható állandó. (A vizsgált vékonyrétegre A=0,071eV1/2/nm és η=1/2.) Az áteresztőképességet α értékével a jól ismert abszorpciós összefüggés kapcsolja össze:
Tfilm=e-αt,
ahol t a vékonyréteg vastagsága.
A mérési összeállításban (lásd ábra) egy 5' pontossággal beállítható goniométerre (szögmérésre alkalmas eszköz egy rögzített és egy forgó karral) szerelt optikai ráccsal lehetett felbontani egy halogénlámpa fehér fényét. A mintán és a referenciának használt üveglemezen áthaladó fény erősségét fotoellenállás segítségével lehetett mérni. (A fotoellenállás elektromos ellenállása csökken, ha a rá eső fény intenzitása növekszik.)
 
 

A mérés elején a versenyzőknek hosszadalmas, bonyolult eljárással kellett beállítaniuk az egyes optikai elemeket, és meghatározniuk a spektrális felbontás pontosságát. Ezt követte a mérés elvégzése (a mintán, illetve az üres üveglemezen átmenő fény intenzitásának mérése a hullámhossz függvényében) és az adatok kiértékelése.
A kiértékeléshez az x=hν és y=(αthν)2 értékpárokat kellett ábrázolni egy koordinátarendszerben, és a pontokra az (1) egyenletet kielégítő tartományban egyenest kellett illeszteni (lásd grafikon). Az (1) egyenletet t-vel megszorozva és négyzetre emelve kapjuk:
(αthν)2=(At)2(hν-Eg),
amit összevetve x és y képletével:
y=(At)2(x-Eg).
Ennek alapján az illesztett egyenes paramétereiből már könnyen meghatározható az Eg tiltottsáv-szélesség és (A ismeretében) a vékonyréteg t vastagsága. A vékonyréteg előállítása nehezen reprodukálható, így az egyes mintákon Eg értéke 2 eV és 2,2 eV között, t értéke 70 nm és 200 nm között változott. (A rendezők a versenyre készített mind a 616 mintát végigmérték!)