A szöveg csak Firefox böngészőben jelenik meg helyesen. Használja a fenti PDF file-ra mutató link-et a letöltésre. Kísérleti feladat A kísérleti feladatban egy vasoxid () nanorészecske-láncokat tartalmazó vékonyréteg-félvezető tiltottsáv-szélességét és vastagságát kellett meghatározni optikai módszerrel. A tiltottsáv-szélesség a félvezetők és a szigetelők esetében a vegyérték sáv teteje és a vezetési sáv alja közti energiakülönbség. A vegyérték sáv teljesen be van töltve elektronokkal, a vezetési sáv pedig üres ‐ azonban a vegyérték sávból elektronok juthatnak a vezetési sávba, ha elegendő (legalább a tiltottsáv-szélességgel megegyező nagyságú) energiát kapnak. A tiltottsáv-szélesség megméréséhez az átlátszó vékonyréteg fényelnyelő-képességét (abszorpcióját) kellett vizsgálniuk a versenyzőknek a mintán áthaladó fény spektrumának segítségével. Kicsit leegyszerűsítve azt mondhatjuk, hogy az abszorpciós spektrumon hirtelen ugrás (növekedés) figyelhető meg, amikor a foton energiája eléri a tiltottsáv-szélességet. Kísérletileg bebizonyították, hogy a tiltottsáv-szélességnél kicsit nagyobb fotonenergiák esetében a következő összefüggés teljesül: ahol α a vékonyréteg abszorpciós együtthatója, A egy anyagfüggő (a vékonyréteg anyagától függő) állandó, η pedig a vékonyréteg anyagától és szerkezetétől függő abszorpciós mechanizmusból meghatározható állandó. (A vizsgált vékonyrétegre A=0,071eV1/2/nm és η=1/2.) Az áteresztőképességet α értékével a jól ismert abszorpciós összefüggés kapcsolja össze: ahol t a vékonyréteg vastagsága. A mérési összeállításban (lásd ábra) egy 5' pontossággal beállítható goniométerre (szögmérésre alkalmas eszköz egy rögzített és egy forgó karral) szerelt optikai ráccsal lehetett felbontani egy halogénlámpa fehér fényét. A mintán és a referenciának használt üveglemezen áthaladó fény erősségét fotoellenállás segítségével lehetett mérni. (A fotoellenállás elektromos ellenállása csökken, ha a rá eső fény intenzitása növekszik.)
A mérés elején a versenyzőknek hosszadalmas, bonyolult eljárással kellett beállítaniuk az egyes optikai elemeket, és meghatározniuk a spektrális felbontás pontosságát. Ezt követte a mérés elvégzése (a mintán, illetve az üres üveglemezen átmenő fény intenzitásának mérése a hullámhossz függvényében) és az adatok kiértékelése. A kiértékeléshez az x=hν és y=(αthν)2 értékpárokat kellett ábrázolni egy koordinátarendszerben, és a pontokra az (1) egyenletet kielégítő tartományban egyenest kellett illeszteni (lásd grafikon). Az (1) egyenletet t-vel megszorozva és négyzetre emelve kapjuk: amit összevetve x és y képletével: Ennek alapján az illesztett egyenes paramétereiből már könnyen meghatározható az Eg tiltottsáv-szélesség és (A ismeretében) a vékonyréteg t vastagsága. A vékonyréteg előállítása nehezen reprodukálható, így az egyes mintákon Eg értéke 2 eV és 2,2 eV között, t értéke 70 nm és 200 nm között változott. (A rendezők a versenyre készített mind a 616 mintát végigmérték!)
|
|